Краш-тест мобильного телефона Highscreen Cosmo – 2 экземпляра


Страница: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13

Краш-тест мобильного телефона Highscreen Cosmo - 2 экземпляра8.51057

Перенапряжение по цепи батареи (повторно)

После прохождения всех тестов, предназначенных для первого экземпляра, мы подвергли оставшийся в рабочем состоянии телефон повышению напряжения питания. Это сделали для того, чтобы убедиться, был ли выход из строя случайностью или закономерностью. Условия проведения теста те же (Видео 14).

Второй аппарат также завис при повышении напряжения – перестал реагировать на команды сенсорный экран и клавиша включения. Но ток потребления все время оставался в пределах нормы. Благодаря чему экземпляр под номером 2 прошел тест успешно.

Видео 14. Повторный тест по перенапряжению

13. Разборка. Качество монтирования узлов

Все испытания первого экземпляра (который был в процессе заменен на второй) закончены. После этого мы разобрали телефон, для этого было достаточно вывинтить 4 шурупа (Рис. 9).

Следует отметить некоторые недостатки в конструкции и сборке аппарата. Три элемента корпуса крепятся на двухстороннем скотче (показаны на рис. 9 с нижнем правом углу). Пластмасса корпуса, в частности лицевой панели, очень тонкая и легко гнется. Несмотря на это, в аппарате нет элементов, наделяющих корпус дополнительной жесткостью, наподобие металлического бандажа или рамы. Плата же занимают всю внутреннюю площадь, из-за чего она подвержена деформации, происходящей с корпусом. Впрочем, плата спроектирована неплохо (Рис. 10). Большинство деталей находиться под съемными металлическими экранами.

На плате следов коррозии почти не было. Лишь в нескольких местах на поверхности припоя был виден едва различимый белесый налет. Возможно, под микросхемами был окисел, из-за чего телефон стал потреблять больше энергии.

Любопытно, что на плате предусмотрено место под установку второго разъема для SIM-карты. Корпус также рассчитан на наличие этого разъема.

Рис. 9. Телефон в разобранном виде

Рис. 9. Телефон в разобранном виде

Рис. 10. Вид платы

Рис. 10. Вид платы

Оценка: 2 из 3

14. Тест гарнитуры, перегиб

Кабель любой гарнитуры со временем может переломаться и прийти в негодность. В этом тесте мы подвергнем кабель наушников, поставляемых в комплекте с Highscreen Cosmo, многократным перегибам. Для этого шнур гарнитуры был закреплен в специальном устройстве (Видео 15). Испытание проводилось в три этапа: 100, 1500, 2000 перегибов в каждом этапе соответственно.

После каждого из этапов работа наушников проверялась. Проблем не было ни на одном из этапов тестирования.

Видео 15. Перегиб шнура гарнитуры

Баллы (этап 1): 3 из 3
Баллы (этап 2): 3 из 3
Баллы (этап 3): 3 из 3

VN:F [1.7.5_995]
Rating: 8.5/10 (57 votes cast)
VN:F [1.7.5_995]
Rating: +5 (from 19 votes)

Новости по данному производителю:

Страница: 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13

  • Andrey

    Ну вот! Наконец-то стали делать более менее жизненные краштесты. Спасибо – очень понравилась проделанная работа!

    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0.0/5 (0 votes cast)
    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0 (from 0 votes)
  • Www M

    мда только купить собрался,а он такой ненадёжный…хорошо что некупил))спасибо техно крашу!

    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0.0/5 (0 votes cast)
    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0 (from 0 votes)
  • http://technocrash.ru/wp-content/plugins/extredj/red.php?ext=aHR0cDovL3R3aXR0ZXIuY29tL2h4Y19wYW5kYQ== bo panda

    Когда тест на Defy уже будет?

    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0.0/5 (0 votes cast)
    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0 (from 0 votes)
  • http://technocrash.ru/wp-content/plugins/extredj/red.php?ext=aHR0cDovL3R3aXR0ZXIuY29tL2h4Y19wYW5kYQ== bo panda

    Когда тест на Defy уже появится?

    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0.0/5 (0 votes cast)
    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0 (from 0 votes)
  • Pitchealex

    когда появиться тест на Acer beTouch E400???

    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0.0/5 (0 votes cast)
    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0 (from 0 votes)
  • Sidelnikova113

    Мне нравится телефон,купила-довольна

    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0.0/5 (0 votes cast)
    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0 (from 0 votes)
  • Гость

    интересуе рис 10 по крупнее его бы.подал завышенное напряжение на заряд батареи сгорела микросхема данные на ней испорчены подскажите их если не сложно sergei-sushkov@mail.ru

    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0.0/5 (0 votes cast)
    UN:F [1.7.5_995]
    Rating: 0 (from 0 votes)
blog comments powered by Disqus